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探針測(cè)試臺(tái) 測(cè)試臺(tái) 顯微鏡測(cè)臺(tái)
價(jià) 格:詢價(jià)
產(chǎn) 地:更新時(shí)間:2021-01-18 13:56
狀 態(tài):正常點(diǎn)擊量:2026
上海非利加實(shí)業(yè)有限公司
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產(chǎn)品型號(hào):HG200-ST-102A
HG200-ST-102A型探針測(cè)試臺(tái) 、與測(cè)試儀器配接后可用于集成電路芯片及各種晶體管芯的電參數(shù)測(cè)試及功能調(diào)試,適用于科研、新品試制及小批量生產(chǎn)的中間測(cè)試。
技 術(shù) 指 標(biāo) :
工作臺(tái)面 370mm*245mm
載物臺(tái)直徑 4"
光學(xué)參數(shù) 總放大率:50-100倍;手輪調(diào)焦范圍:60mm;升降調(diào)焦范圍:200mm;
精密旋轉(zhuǎn)臺(tái) 粗調(diào)范圍:360°;微調(diào)范圍:±10°;*小刻劃:1°;
銅盤直徑:Φ85mm;絕緣盤直徑:Φ102mm
三維探針座 探針座X、Y、Z方向調(diào)節(jié)范圍:±3.25mm,分辨率±2μ;
三維探針座在工作臺(tái)面可任意位置固定,由磁性開(kāi)關(guān)控制;
*多可布三維探針座6個(gè);
探針臂伸出長(zhǎng)度:60mm;
探針長(zhǎng)度:40mm;
探針 探針材質(zhì)硬質(zhì)合金,針尖曲率半徑2μm;
標(biāo)準(zhǔn)配置:主工作臺(tái)、顯微鏡、承片臺(tái)、三維微調(diào)架2個(gè)、探針臂2支、探針2支。
可選配件:三維微調(diào)架、探針臂、探針、真空泵。