CI-110 植物冠層圖像分析儀
價(jià) 格：詢價(jià)
產(chǎn) 地：美國(guó)更新時(shí)間：2020-10-23 14:29
品 牌：CID, Inc型 號(hào)：CI-110
狀 態(tài)：正常點(diǎn)擊量：2332
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CI-110的出現(xiàn)是20世紀(jì)90年代CID公司在生理生態(tài)儀器研制中的***個(gè)創(chuàng)新。CID公司于上世紀(jì)80年代，在世界范圍內(nèi)***次推出了通過(guò)80個(gè)PAR探頭測(cè)量植物冠層下“光斑”的方法來(lái)計(jì)算冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)的光斑儀（CI-150）。但CI-150對(duì)使用條件有很多限制，并且測(cè)量工作量十分繁重。為了滿足生理生態(tài)觀測(cè)時(shí)對(duì)儀器輕便、測(cè)量快速、操作簡(jiǎn)便的需求，CID公司在90年代后期推出CI-100，并改進(jìn)升***為CI-110。CI-110使用更方便、測(cè)量參數(shù)更豐富并配有強(qiáng)大的軟件功能。
產(chǎn)品參數(shù)
原理與方法
CI-110測(cè)量植物冠層圖象分析儀采用了冠層孔隙率與冠層結(jié)構(gòu)相關(guān)的原理。它是根據(jù)光線穿過(guò)介質(zhì)減弱的比爾定律，在對(duì)植物冠層定義了一系列假設(shè)前提的條件下，采用半理論半經(jīng)驗(yàn)的公式，通過(guò)冠層孔隙率的測(cè)定，計(jì)算出冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)。這是目前世界上各種冠層儀一致采用的原理。在上述原理下，CI-110采用的是對(duì)冠層下天穹半球圖像分析測(cè)量冠層孔隙率的方法，該方法是各類方法中最精確和最省力、省時(shí)、快捷方便的方法。
常不適合孔隙率測(cè)量原理與方法所假設(shè)的前提條件，用于冠層結(jié)構(gòu)分析是不適宜和
不經(jīng)濟(jì)的）
分辨率：768×494pix
測(cè)量范圍：天頂角由0°～75°（150°魚眼鏡頭）可分割成十個(gè)區(qū)域，方位角
360°亦可分割成十個(gè)區(qū)域
PAR感應(yīng)范圍：感應(yīng)光譜400～700nm
測(cè)量范圍0～2000μmol/m2?s
分析軟件：CID公司專業(yè)CI-110軟件
顯示和內(nèi)存：決定于筆記本電腦的選擇
電 池：電腦電池
探頭尺寸：直徑6cm，高10cm
總 重 量：500克（不含筆記本電腦）
傳輸接口：USB
工作溫度：0～55℃
產(chǎn)品介紹
通過(guò)USB接口直接將測(cè)點(diǎn)圖像顯示在計(jì)算機(jī)上，可以在野外即時(shí)觀察圖像，選擇合理的測(cè)點(diǎn)，將圖像存貯
半球圖象上可以設(shè)計(jì)任何地點(diǎn)、任何時(shí)間的太陽(yáng)視運(yùn)動(dòng)軌跡，以及冠層內(nèi)任意時(shí)刻的受光狀況
滬公網(wǎng)安備31011502016460號(hào)
