四探針電阻率測(cè)試儀BEST-300C
價(jià) 格：詢價(jià)
產(chǎn) 地：北京更新時(shí)間：2025-02-11 13:03
品 牌：其他型 號(hào)：
狀 態(tài)：正常點(diǎn)擊量：2418
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產(chǎn)品介紹
四探針電阻率測(cè)試儀BEST-300C
對(duì)悔 校準(zhǔn)樣品，在四探針測(cè)R過的區(qū)域至少徽2次擴(kuò)展電阻測(cè)Ω，測(cè)顯的長(zhǎng)度大約等于四操針的網(wǎng)外探針之間的距離。
電流輸出：直流電流?0～1000mA?連續(xù)可調(diào)，由交流電源供電。為保證小信號(hào)測(cè)量條件，應(yīng)使探針電勢(shì)不大于 20 mV。電導(dǎo)率：5×10-6～1×108ms/cmGB/T 1555 半導(dǎo)體單晶晶向測(cè)定方法GB/T 14847 重?fù)诫s襯底上輕摻雜建外延層厚度的紅外反射測(cè)顯方法式中;p—-—電阻率，單位為歐姆厘來（0·cm）; a——接觸率徑，單位為厘米（cm） R，——擴(kuò)展電阻，單位為歐姆（N），等式成立需符合如下三個(gè)假定條件;測(cè)量按CGB/T 1S59 確定樣品的導(dǎo)電類型，按GB/T 15 確定樣品的晶肉;如樣晶為外題片，按 GB/T 14847 確定樣品外延層的厚度， 按 6 章制備好樣品。
